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2023-06-26
6.1.4.1 在远场中测量
如前所述,发光强度概念中假设光源为点状的。发光强度是用放置在距离足够远的勒克斯计测得的,并且要利用式(6-6),式中含有距离的二次方和倾斜角的余弦(通常采用垂直入射使该余弦值为1)。
严格来说,没有光源是点状的,如果光源和检测器的距离相对于光源的最大尺寸足够大时,才可将光源看为点状的。实际中两者的推荐比值至少为10,当光源面前为平行光学时,该比值还要更大一些,LED也通常如此。为了在检测器表面的每一点都能实现垂直入射,检测器表面的最大尺寸相对距离而言也必须足够小。光源和检测器相对于距离可看为“小”的两个条件通常被称为“远场条件”。如果至少有一个条件不满足,则称之为“近场”,此时式(6-6)不再有效。
要确定光源和检测器之间的距离并不总是轻而易举的。一方面因为匹配滤波器的存在,难以精确确定检测器的有效表面;另一方面的原因是通常位于LED前的透镜产生的影响。对于后一种情况,需被迫将LED上的任意一点定位为假定的光学中心。
6.1.4.2 LED的平均发光强度
对于LED的测量,在器件的紧凑性和操作的简易性受到推崇的工业实践中,通常采用近场条件进行测量,这时用距离的二次方推导出的照度不再代表某一方向的真实发光强度,而是常规意义上的发光强度,称为平均发光强度。“平均”的含义是实际上光源所有的基本发射表面(不再是点状的)都被考虑在内。
由于近场测量结果主要依赖于所选的距离,所以除了定义平均发光强度的概念外,还必须精确描述工作几何形状。CIE提出了两种标准几何形状,分别记为A和B,根据强调的是光度强度还是能量强度,相应的强度为ILEDAv和ILEDAe,或ILEDBv和ILEDBe。两个标准条件都要求检测器的100mm2圆形开口直接面向LED,而且圆点与LED机械轴对齐。两种情况的区别在于LED和检测器间的距离d(两种情况中,应测量LED前端至检测器输入开口面的距离):
1)情况A:d=316mm(所以d2=0.1m2),
2)情况B:d=100mm(所以d2=0.01m2)。
于是可得:
1)在情况A下:ILEDAv(cd)=0.1Ev(lx),
2)在情况B下:ILEDBv(cd)=0.01Ev(lx)。
6.1.4.3 发光强度空间分布的测量
为了确定光源的辐射图,使用双轴测角仪可探测任何空间方向。电灯位于中心,检测器置于足够远的距离外,从而可有效地应用距离二次方定律,以不同的方位角测量一系列的子午线。
角度的探测(见图6-3)
图6-3 角度探测法
1)保持光源的姿态固定,一机械臂围绕光源的中心旋转,机械臂的底部装有光电探测器并运动半周(例如在垂直平面上)。利用这种方式,并且使光源或垂直平面绕着垂直轴旋转,就可得到子午面。这种测量方法所需的自由空间与电源和检测之间的距离一样广阔。
2)光源放置于二重正交轴支架的旋转中心且将检测器固定。这种方法节省了空间,但光源的光通量与和垂线间距离有关时,这种方法就不能使用,但对于LED而言这不是问题。
还有一种基于旋转镜的更为复杂的方法,但不适用于LED。
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