首页 历史故事晶体结构与6H-SiC和Al2O3的外延关系分析

晶体结构与6H-SiC和Al2O3的外延关系分析

【摘要】:图2-5 GaN晶体中镓和氮原子键极性的方向两种用于GaN外延生长的最常用的衬底是三方晶格的Al2O3蓝宝石和六方晶格的6H-SiC碳化硅。采用了有极性的6H-SiC和ZnO衬底,GaN的极性将复制其下面衬底的极性[HEL 98]。相反,Al2O3衬底是无极性的。因此氮化物被称为半极性的或非极性的。表2-1给出了两种主要衬底6H-SiC和Al2O3的一些重要参数,并与GaN进行了比较。如果不旋转晶格,参数失配将为因为存在减少失配的自然趋势,所以GaN晶格相对于Al2O3晶格被旋转了30°。

Ⅲ族氮化物半导体是由III列元素(铟、镓、铝)和氮原子组成的。它们的基本晶格结构是带sp3键的金刚石点阵,形成闪锌矿(Zincblende)结构(对于立方晶系)或纤锌矿(Wurtzite)结构(对于六方晶系)。

纤锌矿结构(见图2-4)因其金属-氮键离子特性使其成为最合适的结构。

978-7-111-35243-3-Chapter02-4.jpg

图2-4 (Al,Ga,In)N的纤锌矿结构

因为纤维矿结构的极性是沿着c[0001]轴的,所以存在固有的极化,也称为自发极化。

氮化物的极性定义为III-N键相对于样品表面的方向(见图2-5)。应将镓极性和氮极性表面区别开来。

978-7-111-35243-3-Chapter02-5.jpg

图2-5 GaN晶体中镓和氮原子键极性的方向

两种用于GaN外延生长的最常用的衬底是三方晶格的Al2O3蓝宝石和六方晶格的6H-SiC碳化硅。两种衬底通常具有[0001]方向的外延表面,氮化物沿此方向生长。

那么氮-面或镓-面的极性由衬底和采用的生长方法决定。采用了有极性的6H-SiC和ZnO衬底,GaN的极性将复制其下面衬底的极性[HEL 98]。

相反,Al2O3衬底是无极性的。在Al2O3上GaN的直接生长采用氮源MBE使GaN与氮的极性相同[CHO 03],然而镓极性可用生长前在蓝宝石上沉淀出缓冲层的方法实现。镓极性总是由MOVPE方法获得,因为在外延生长的第1步,高温和氨流量使Al2O3上形成AlN单分子层。

GaN层的外延生长还可以由与生长方向不同的C轴获得。因此氮化物被称为半极性的或非极性的。采用如6H-SiC等与GaN对称的衬底时,GaN的晶体取向准确地沿着衬底。采用Al2O3等衬底时,外延生长可沿不同方向,具体方向由Al2O3的晶面决定(见图2-6)。对于C(0001)方向或A方向(11-20)的晶面,GaN膜沿着C极性方向生长。对于R(1-102)方向的蓝宝石,GaN沿着非极性方向A<11-20>生长,C轴与表面平面平行。最终M(10-10)方向的蓝宝石得到<11-22>方向的GaN,称为半极性,C轴和表面平面的夹角为32°。

非极性氮化物在生长方向上不会自发极化或压电极化,从而消除了LED有源结构中的量子受限斯塔克效应(Stark Effect),增加了辐射效率。但是,非极性或半极性氮化物的晶体品质远不如极性氮化物,主要原因在于堆垛层错[GUE 07]。

本章的剩余部分涉及(0001)方向的极性氮化物,迄今为止它是所有光电子元件的基础。

表2-1给出了两种主要衬底6H-SiC和Al2O3的一些重要参数,并与GaN进行了比较。

表2-1 一些参数与GaN的比较

978-7-111-35243-3-Chapter02-6.jpg

(续)

978-7-111-35243-3-Chapter02-7.jpg

注:CTE为热膨胀系数;σth热导率

978-7-111-35243-3-Chapter02-8.jpg

图2-6 GaN在Al2O3不同晶面上的外延生长方向

蓝宝石与GaN间的晶格失配要比它和SiC间的高,这是异质外延的一个缺点。然而,可利用先进的技术获得相近的晶体品质,与使用的衬底无关。SiC的主要优点是其极高的热导率和电导率,前者使LED的散热性能更好,后者使LED内层的金属接触成为可能。另一方面,蓝宝石是热绝缘和电气绝缘的。

SiC和GaN的热膨胀系数(CTE)不同,SiC的要小一些,当从生长温度(约1000℃)冷却至环境温度期间,会产生拉伸应力。因此GaN层在应力作用下可能会出现宽度大于5μm的裂缝[LAH 00]。另一方面,蓝宝石的CTE比GaN的小。在这种情况下,冷却时GaN膜受到压缩,造成GaN和蓝宝石的界面出现裂缝并传播至GaN的内部[HIR 93]。图2-7所示的为蓝宝石的三方晶格和(0001)外延晶面。

978-7-111-35243-3-Chapter02-9.jpg

图2-7 蓝宝石的三方晶格和(0001)外延晶面(面内的GaN晶格相对于蓝宝石旋转了30°,以减少参数失配。本例中Δa/a=-13.8%)

Al2O3在(0001)晶面的晶格参数为4.758Å,而GaN的为3.189Å。如果不旋转晶格,参数失配将为

978-7-111-35243-3-Chapter02-10.jpg

因为存在减少失配的自然趋势,所以GaN晶格相对于Al2O3晶格被旋转了30°。本例中,失配变为

978-7-111-35243-3-Chapter02-11.jpg

外延关系为[11-20]Al2O3//[10-10]GaN。这种情况下解理面(Cleavage Planes)的获得是极其困难的,需要用离子蚀刻方法产生激光腔。