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一维聚吡咯梯度掺杂纳米线的制备与表征

【摘要】:梯度掺杂一维聚吡咯纳米线的制备采用的是浓度控制电沉积的方法。最后,在纳米尺度下,我们实现了用CCED技术对聚吡咯的掺杂物成分的精确控制,该掺杂物成分沿着纳米线的生长方向构建出了具有纵向梯度掺杂的GDNw。样品的拉曼光谱用RM2000型纤维共聚拉曼仪进行测试,激发波长为532 mm。梯度掺杂可以通过EDS的元素映射方法得到验证。GDNa的XRD图显示,其在20°~30°具有一个典型的宽峰,进一步证实了聚吡咯的成功合成。

实验前期需要细致的准备工作,先取2 g十二烷基苯磺酸钠(SDBS)置于10 mL去离子水中,充分搅拌后置于超声波清洗仪中超声10 min,取上层的SDBS饱和溶液于干净的烧杯中备用。取厚度为1 mm的Au片置于自制反应釜底部,将AAO模板放置在反应釜底部的金片上,压实以保证接触良好。取50 mL去离子水置于外部接有注射装置的洗瓶中备用。

梯度掺杂一维聚吡咯纳米线(Gradient Doped Polypyrrole Nanowire,GDNw)的制备采用的是浓度控制电沉积的方法(Concentration-controlled Electro-deposition,CCED)。很显然,电解质浓度决定了导电聚合物中的掺杂程度。CCED技术的关键是在电沉积过程中利用可变的电解质SDBS浓度建立离子梯度。

取底部装有喷金后的AAO模板的反应釜,分别插入Pt片作为对电极,再插入Ag/AgCl作参比电极,制备GDNw的三电极体系由此搭建完成。将三电极接入电化学工作站中。将之前制备好的SDBS饱和溶液沿反应釜壁缓慢倒入反应釜中,再通过移液枪向溶液中滴加1 mL吡咯单体,轻轻搅拌至混合均匀。将准备好的注射滴加装置置于反应釜上方。

开启电化学工作站,在0.8 V的工作电压下,通过恒电位的方法生长聚吡咯纳米线,同时开启反应釜上方的注射装置,通过逐滴滴加去离子水以控制电解质的浓度随时间逐渐降低,嵌入聚吡咯纳米线中的SDBS随着电解质浓度的降低而降低,由此在AAO中生长出聚吡咯纳米线,形成SDBS的梯度掺杂,其生长过程如图3.14(a)所示。

在电沉积的不同阶段,每500 s取少量电解质溶液,通过紫外光谱法检测SDBS在吡咯水溶液中的浓度(图3.14(b))。在初始阶段,由于饱和的SDBS溶液提供了最大的离子浓度,因此更多的离子嵌入聚合物链中。随着电沉积过程的继续,溶液中SDBS的浓度逐渐降低,纳米线中十二烷基苯磺酸离子(DDBSA-)和钠离子(Na+)的浓度也逐渐降低。最后,在纳米尺度下,我们实现了用CCED技术对聚吡咯的掺杂物成分的精确控制,该掺杂物成分沿着纳米线的生长方向构建出了具有纵向梯度掺杂的GDNw(图3.14(c))。

图3.14 生长单根的GDNw(见彩图)

(a)通过CCED技术生长GDNa模板;(b)对不同阶段的电沉积溶液进行紫外光谱测定;(c)单根GDNw模型图(内部结构显示Na+和DDBSA-浓度梯度变化规律)

采用JSM-7500F型扫描电子显微镜(SEM)对样品进行形貌表征,并采用配套的元素分析仪(X射线能谱分析,EDS)进行元素分析。采用JEM-2010型透射电子显微镜(TEM)对样品进行透射电镜测试。样品的拉曼光谱用RM2000型纤维共聚拉曼仪进行测试,激发波长为532 mm。X射线衍射采用荷兰飞利浦PW-1710型衍射仪进行分析(X-Ray源为 Cu Kα,采用波长为0.154 nm),数据收集角度为5°~80°,扫描速率为5°·min-1

通过模板辅助、电化学聚合法获得的GDNw在超声分散之前是以GDNa(Gradient Doped Polypyrrole Nanoarray,梯度掺杂纳米线阵列)形式存在的,其形态和尺寸如图3.15(a)所示。SEM图显示了GDNa的横截面扫描厚度约为15 μm,GDNa的生长长度可以很容易地通过控制聚合电压和时间来调节。梯度掺杂可以通过EDS的元素映射方法得到验证。如图3.15(b)和3.15(c)所示,GDNa的硫(S)含量从底部到顶部逐渐降低(图3.15(b)),同时,伴随着恒定的碳(C)含量(图3.15(c)),表明在GDNw中SDBS梯度的成功构建出来了。图3.15(d)中GDNa的顶视图显示GDNa的形态是具有高比表面积的分形纳米结构。拉曼光谱测量分别在870、930、1 050、1 246、1 340、1 430和1 560 cm-1处显示出一系列典型的峰,证明了聚吡咯的存在(图3.15(e))。GDNa的XRD图显示,其在20°~30°具有一个典型的宽峰,进一步证实了聚吡咯的成功合成(图3.15(f))。

图3.15 GDNa和GDNw的形貌特征

(a)GDNa的横截面SEM图像;(b),(c)GDNa在EDS下相应的碳和硫图谱;(d)GDNa的顶视图;(e)GDNa的拉曼光谱;(f)GDNa的XRD图谱;(g)单个GDNw的SEM图像,插图是直径为200 nm的GDNw的TEM图像;(h)由两个金微电极和GDNw组建的纳米发电装置的SEM 图像;(i)通过EDS分析在(h)中的区域中从“左”到“右”获得的相应纳米线的硫和碳的含量

扫描电镜图像显示GDNw长度约为15 μm,纳米线表面光滑,尺寸均匀(图3.15(g))。图3.15(g)中的插图为TEM下的GDNw展示图。图3.15(h)显示出通过分散将GDNw搭在金电极对上制备出纳米器件的结构。从图3.15(i)可以看出不同于碳元素的均匀分布,单个GDNw中的硫含量呈现出从左到右的梯度分布,与GDNa的EDS图(图3.15(c))一致。上述结果表明了在每根GDNw中SDBS浓度梯度的成功构建。