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绝缘栅双极型晶体管(IGBT):特性与主要参数

【摘要】:绝缘栅双极型晶体管是一种电流控制器件。IGBT是在MOSFET的PN结层面上再焊接一层PN结,结的层数加多,而且传导面积加大,使P区向N区发射的载流子增多,而且载流子在缓冲区停留的时间缩短,这就是它的电流密度大、击穿电压高、导通电阻低的原因。表2-1 MOSFET与IGBT的特性比较

绝缘栅双极型晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor,IGBT)是一种电流控制器件。为了提高IGBT工作频率,设计电路时,工作在准饱和状态,所谓准饱和状态是指工作点在深饱和与放大区之间一个区域。若准饱和区工作电流增益开始下降,但电路依然是源极处于正偏置,漏极处于反偏置,这样开关速度大大提高。

IGBT是一种大电流密度、电压激励场效应控制器件,是美国GE公司于20世纪90年代中期推出的耐高压、大电流模块化可控的第三代产品。它最高耐压可达1800V、电流容量达450A、关断时间低于0.2μs,在电力、通信领域得到广泛应用。

其主要性能如下:

1)电流密度大,是MOSFET的几十倍。

2)输入阻抗高,栅极驱动电流小,驱动电路简单。不需外加限流,防自激振荡,自触发。

3)击穿电压高,安全工作区大,能防止和抑制瞬态干扰时出现的大电流冲击。

4)导通电阻低。在相等的芯片尺寸和相同V(BR)DS的条件下,IGBT的导通电阻RDS(on)只有MOSFET的10%。

5)开关速度快,关断时间短,损耗低。1kV IGBT,它的关断时间只有1μs,一般关断时间只有0.2μs,开关频率为100kHz时,IGBT的功率损耗只有MOSFET的30%。

IGBT是在MOSFET的PN结层面上再焊接一层PN结,结的层数加多,而且传导面积加大,使P区向N区发射的载流子增多,而且载流子在缓冲区停留的时间缩短,这就是它的电流密度大、击穿电压高、导通电阻低的原因。IGBT与一般晶体管的伏安特性曲线一样,有饱和区、阻断区(截止区)、有源区(放大区),如图2-3所示,同样与晶体管的开关波形相似,如图2-6b所示,MOSFET与IGBT的特性比较如表2-1所示。

2-1 MOSFETIGBT的特性比较

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