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硬驱动技术实现单位关断增益

【摘要】:图3-28给出了GTO的驱动电路[14]。图3-28 含有GTO驱动电路的实物表3-2比较了普通GTO与HD-GTO的性能参数[18]。由图3-29c可见,采用“硬驱动”电路关断时,所有阳极电流均从门极流出,故其关断增益βoff为1。所以,“硬驱动”技术的典型特征就是可实现单位关断增益。

1.硬驱动的定义

所谓“硬驱动”是指在器件关断过程中极短的时间内,给门极加上电流上升率及幅值都很大的驱动信号,使器件的存储时间大大缩短,从而获得较大的安全工作区和器件的无吸收工作[16]

传统的GTO采用了庞大的门极驱动电路,导致其门极回路的电感很大;硬驱动GTO(HD-GTO)则是通过改进驱动电路与GTO的连接方式以减小门极回路的电感,从而实现“硬驱动”。图3-28给出了GTO的驱动电路[14]。可见,HD-GTO就是将GTO封装体与门极驱动电路的引线电感尽可能地减小(约为8nH),从而提高门极电流的上升率。

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图3-28 含有GTO驱动电路的实物

表3-2比较了普通GTO与HD-GTO的性能参数[18]。可见,采用普通“软驱动”电路时,门极电流上升率diG/dt较小,幅值较低;而采用“硬驱动”电路时,diG/dt较大,幅值较高。所以,采用“硬驱动”电路可使GTO的开通能耗和存储时间大大减小,最大可关断电流ITGQM和关断du/dt容量明显增加,关断时吸收电容和门极驱动功耗也大大减小。

表3-2 4.5kV/3kA/125℃普通GTO与HD-GTO的性能参数比较

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(续)

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图3-29比较了GTO在不同工作状态下的等效电路[16]。由图3-29a可知,导通时阴极电流IK等于阳极电流IA(因为门极电流IG很小)。由图3-29b可见,正常关断时只有1/4的阳极电流从门极流出,关断增益为4(即βoff=4)。由图3-29c可见,采用“硬驱动”电路关断时,所有阳极电流均从门极流出,故其关断增益βoff为1。所以,“硬驱动”技术的典型特征就是可实现单位关断增益。

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图3-29 GTO在不同关断增益下的等效电路比较

GTO在单位关断增益下的关断波形如图3-30所示[19]。采用“硬驱动”电路关断时,J3结瞬间截止,阴极电流IK为零,于是门极电流IG与阳极电流IA大小相等,p2基区的载流子移除速度很快,使存储时间大大缩短,约为1μs(正常关断时的存储时间约为20μs)。因为在正常关断的情况下,门极电流小于阳极电流,所以载流子移除速度较慢。并且,在存储期时阴极电流并不为零,阴极区仍有载流子注入。

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图3-30 GTO在单位关断增益下的关断波形

采用单位增益关断,使GTO各单元存储时间ts的差异减小,器件内部的电流趋于均匀分布,可以改善GTO的RBSOA。即使有两个单元的ts不同(如ts1ts2),在t2时刻,存储时间短的GTO1先关断,其电流将转移到存储时间稍长的GTO2,使其中的电流增大。由于GTO2的阳极电流增大,其门极电流也增大,少子移除速度也较快,存储时间ts2就可缩短,于是形成了一个负反馈。可见,采用单位增益关断更有利于实现均流。相比较而言,在正常关断增益下,由于ts不同,导致GTO的电流集中于ts较长的单元,这个过程极大地限制了GTO门极所能承受的平均功耗,因此必须有一个du/dt吸收电路来限制阳极电压上升率。采用单位增益关断,可提供均匀的电流分布,整个GTO在关断期间可承受更高的平均瞬态功率,因而可在无du/dt吸收电路的条件下关断。

2.硬驱动的优点

采用门极“硬驱动”,不仅可使GTO的开通di/dt提高,延迟时间缩短,损耗下降,而且可使关断的du/dt耐量和最大可关断电流提高,存储时间缩短。更重要的是,它可以降低门极电路电感,减小门极驱动电路的元件数、热耗散、电应力及内部热机械应力,从而显著地降低门极驱动电路的成本和失效率。