我们需使用微型夏比冲击设备进行跌落试验,并测量水平跌落和垂直跌落时的Δt。为此,主要的改变是将标准跌落试验中的大型印制电路板的弯曲振动转移到夏比冲击设备上梁或臂的弯曲振动。进行测试的一种方式是使用具有相同构造的另一个臂来替换刚性墙,即具有摆锤和加速度传感器的臂。图11.15台式跌落设备图11.16将刚性墙更换为另一个臂的跌落设备因此,冲击试验是自由下落的相反过程。......
2023-06-20
为了将夏比冲击试验应用于小型试样,例如,电子封装中的单个BGA或单个倒装芯片焊球接头,其焊球直径为760~1 000μm,我们搭建了微型夏比冲击试验机用于测试这些焊球与其基板的键合性质[4-7],如图11.9所示。
基本上来说,它是一个便携式迷你夏比试验机。该试验机使用电磁铁来释放1 ft[1]臂长的摆锤。摆锤从1 ft的高度释放,在最低位置时速度大约为2.44 m/s,该速度比在典型剪切试验中的剪切速度(1 mm/s)快约3个数量级。将焊球试样放置在最低位置处的XYZ定位台上,锤的初始位置和其冲击后的最终位置由角度记录器中的指针记录在半球形表盘上,如图11.9左上角所示。在表盘上,角度的读取精度为0.5°。由于在典型冲击试验中测量的角度差约为10°,因此分辨率为测量能量变化的5%~10%。
图11.9 微型夏比冲击试验机照片
微型夏比冲击试验机已被用于研究焊接到BGA基板上焊球的冲击韧性。焊球在BGA基板上的布局使在摆锤的摆动路径上只有一个焊球。图11.10所示为沿焊料凸点与金属间化合物相间界面脆性断裂的SEM照片。图11.10(a)所示为焊料凸点基体内部的断裂,该断裂面具有剪切作用下塑性变形的形貌。图11.10(b)所示为沿焊料凸点和金属间化合物相间界面的脆性断裂,断裂表面看起来相当光滑。图11.10所示的焊料凸点中从韧性断裂到脆性断裂的变化是我们不希望看到的。定性地来说,韧性-脆性转变的原因是焊料接头经受热处理继而形成的大量金属间化合物,以及在焊料和BGA板上金属化层间界面处的孔洞。量化地来说,为了表征这样的韧性-脆性转变,我们需要使用迷你夏比设备来对大量焊点进行系统研究,研究其与温度、时间、焊料成分、UBM层和凸点在BGA基板上的位置之间的关系。
图11.10 焊料接头断裂面的SEM照片
(a)焊料凸点基体内部的断裂;(b)沿焊料凸点和金属间化合物相间界面的脆性断裂
我们注意到焊料接头中的韧性-脆性转变不是因为与体心立方金属中的温度变化类似,而是因为老化中生长的金属间化合物或电迁移中形成的界面孔洞。当较厚的金属间化合物及大量的柯肯达尔孔洞形成时,焊点很可能展现出脆性。当电迁移导致接头阴极界面处积累大量孔洞时,在阴极处也会产生脆性界面。
在冲击试验的高速剪切过程中,冲击能量应该分布在两个断裂表面的形成以及焊球基体的塑性变形中。焊球越软,变形越大;接头界面越脆,变形越小。我们可以从基板上敲下变形的球后,通过SEM来检查它们的塑性变形量。为了进行比较,可在一台Instron机器中测量出一组自由焊料球中获得同样数量的塑性变形所需的能量。我们发现塑性变形吸收的能量仅约为总冲击能量的10%,因此得知大部分冲击能量用于产生断裂表面。
有关电子软钎焊连接技术 材料、性能及可靠性的文章
我们需使用微型夏比冲击设备进行跌落试验,并测量水平跌落和垂直跌落时的Δt。为此,主要的改变是将标准跌落试验中的大型印制电路板的弯曲振动转移到夏比冲击设备上梁或臂的弯曲振动。进行测试的一种方式是使用具有相同构造的另一个臂来替换刚性墙,即具有摆锤和加速度传感器的臂。图11.15台式跌落设备图11.16将刚性墙更换为另一个臂的跌落设备因此,冲击试验是自由下落的相反过程。......
2023-06-20
接下来我们讨论经典的夏比冲击试验。图11.8夏比冲击试验的几何示意经典的夏比冲击试验是对块状钢样品的断裂韧性的标准试验,典型的测试试样是尺寸约为1 cm×1 cm×5 cm的矩形棒。在夏比冲击试验中,可通过可读角度指示器(针)的标尺来测量冲击前后的高度或角度。我们从夏比冲击试验中得知有三个关键因素会导致脆性断裂:低温、高速剪切和几何凹口。空穴形成可由相互扩散和电迁移引起。......
2023-06-20
图5-25 焊接接头冲击试样样坯截取方位a)缺口在焊缝 b)缺口在热影响区夏比摆锤冲击试验按照GB/T 229—2007的规定进行。焊接接头冲击试验方法中规定以10mm×10mm×55mm带有V形缺口的试样为标准试样。如做系列温度的冲击韧度试验,可给出冲击试验结果与试验温度的关系曲线,进而评价延性-脆性转变温度。......
2023-07-02
倒装芯片焊点接头加工时,首先进行UBM层的沉积,随后在UBM层上电镀形成厚的焊料凸点。随后,低温回流将两部分焊料连接在一起,形成一个复合焊料接头。在倒装芯片器件中,37Pb63Sn焊料的典型回流条件是:保持氮气气氛,峰值温度为220℃,停留时间为90 s。图4.2通过丝网印刷和结块在焊盘上制备共晶焊料的工艺步骤图4.3一对倒装芯片复合焊料接头的横截面示意......
2023-06-20
图11.15和图11.16所示为倒装芯片及臂的末端处铰接的基板分布。在臂的末端安装有重物或摆锤。振动将对焊料接头施加法向力和剪切力。因为冲击方向平行于芯片和基板的法向,该试样布置方式与11.5.1节中讨论的水平板的跌落试验的JESD22-B111标准类似。此外我们可将芯片放置在臂的中部,而不是靠近臂的末端。臂中部的振动幅度也相当大。摇臂将击中自由悬挂的臂,由此可得到循环冲击。实际上,我们可以研究冲击中两个臂上试样的失效。......
2023-06-20
如上一节中所讨论,Cu/Ni/Al薄膜UBM层上的6 Sn5颗粒会由于焊料接头另一个界面上的金属间化合物的相互作用而加速剥落。若在焊接接头的另一侧上没有金属,比如说,若在Cu/Ni/Al上仅有一个共晶SnCuAg焊点,那么,剥落现象在20次回流后才能观察到。而当Au/Ni金属间化层与凸点另一侧连接时,仅仅经历5次回流就能看到剥落现象。研究SnPb焊料和无铅焊料时都发现了类似的现象。事实证明,若我们在焊点的另一侧用纯Ni代替Au/Ni,金属间化合物的剥落现象增强。......
2023-06-20
而其中,倒装芯片焊点尺寸设计和焊料接头的材料选择取决于器件的具体应用和器件设计者所提供的规范。另外,至今还没有任何关于倒装芯片焊料接头电迁移测试的行业标准,而这些标准的建立将会给设计工作提供很大的帮助。鉴于倒装芯片焊料接头的设计细节和选择规则已超出了本书的范围,本书仅提供一些关于焊料接头可靠性问题的基本理解,从而使设计师在其电路设计中考虑到这些问题。......
2023-06-20
焊料接头随处可见。例如,2006年7月1日,欧盟颁布法令,禁止在消费类电子产品中使用含铅焊料。本书力求理解焊料接头可靠性问题的基本理论,特别是重点介绍了焊料反应和电迁移的科学问题。以锡铅共晶焊料的熔点456 K为例,室温和100℃分别接近它熔点的0.66和0.82。为了形成良好的焊料接头,熔化的焊料和固体铜之间的润湿反应依赖于化学助焊剂。......
2023-06-20
相关推荐