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式中,D是扩散率;e是电子的电荷;ρ是电阻率;j是电流密度;Z*是电迁移的有效电荷数。
焊料/金属间化合物的界面为过剩空位提供了扩散通道,使它们能够沿着界面扩散。由于空位扩散场源所造成的沿界面的横向扩散通量可以写为
图9.17 扁平型孔洞在接触面上生长的原理示意
式中,Dint是界面上的扩散率;b′是电流集聚区域宽度;ΔC为在孔洞顶端或孔洞生长前沿处,空位处于平衡态与高电流密度下的浓度差。考虑到质量守恒定律,则有
式中,δ是有效宽度界面;a是单位长度。
假设孔洞的初始宽度是d,Jvoid是孔洞顶端的空位扩散通量。我们再次利用通量守恒条件:
将式(9.10)代入式(9.11)中,则供孔洞生长的空位通量可以写为
由Jvoid沿着界面所传输物质的体积为
式中,A=aδ;ΔV=adΔl;Ω是原子体积。
将式(9.12)代入式(9.13)中,孔洞的生长速率变成
假设,我们得到
为了证实孔洞的生长机制,主要的两个参数是电流集聚区的宽度b′和孔洞的宽度d。如图9.17所示,Gibbs-Thomas效应可能对孔洞顶端的形成起到了重要的作用:
式中,γ为单位面积的表面能。
利用线性关系近似,我们得到孔洞的宽度为
由于这个模型是二维的,我们假定孔洞宽度保持不变。另一方面,我们从式(9.9)和式(9.10)可以得到电流集聚区域宽度
如图9.18所示,二维仿真模型中共晶锡银铜焊点的接触窗口长度取值为224μm,电流集聚区域宽度约为整个长度的15%,因此,电流集聚区域宽度约为33.6μm。根据图9.7,我们测得孔洞的宽度d为2.44μm。电迁移测试温度为146℃,电流密度约为3.67×103 A/cm2,孔洞长度为33μm,孔洞生长的时间是6 h,因此孔洞的生长速率约为5μm/h。在另一种情形下,如9.4.1节中讨论的共晶锡铅焊料凸点,电流密度为2.25×104 A/cm2,测试温度为125℃,接触窗口的长度为140μm,电流集聚区域宽度约为9μm。孔洞在第38 h内形成,焊点在第43 h失效,孔洞的生长速率约为28μm/h。
锡的扩散率DSn=1.3×10-10 cm2/s,界面的扩散率取值为4.2×10-5 cm2/s。锡的有效电荷数=17,电阻率ρSn=13.25μΩ·cm。表面能γ=1015 eV/cm2,Ω取值为2.0×10-23 cm3。有效界面宽度约为0.5 nm。唯一未知参数是ΔC和C0的比值,为了得到合理的结果,ΔC/C0的取值范围为1%~3%。
图9.18 扁平型孔洞生长的二维仿真模型
利用这些参数和试验条件数值,可由式(9.18)、式(9.17)和式(9.15)分别算出电流集聚区域长度b′、孔洞宽度d和孔洞的生长速率v的理论值。如表9.3所示,理论值和试验结果比较吻合。
表9.3 电迁移中扁平型孔洞生长速率的理论值与试验值之间的对比
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